飞行时间法迁移率测量仪FlyTOF

载流子迁移率测量仪;电子/空穴迁移率;飞行时间法;半导体;载流子成像；二维平面

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激光器

半导体专用检测仪器设备

参考报价：	面议	型号：	FlyTOF
品牌：	东谱	产地：	中国
关注度：	1	信息完整度：
样本：		典型用户：	暂无

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可以做哪些实验，检测什么？可以用哪些耗材和试剂？

产品简介产品推荐

发布时间：2023年03月

最早于2012年为行业提供搭建式系统，并于2019年全新推出的业内首款自动化、集成化的飞行时间法迁移率测量商业化设备。

产品简介

FlyTOF飞行时间法迁移率测量仪是东谱科技HiTran瞬态综合光电特性测量平台中的重要成员。该系统利用飞行时间法（time-of-flight，TOF）测量半导体材料的迁移率以及相关的光电特性，广泛适用于各类半导体材料，如硅基半导体、第二代半导体、第三代宽带隙半导体、有机半导体、钙钛矿半导体、量子点半导体、二维材料半导体、金属-有机框架（MOF）、共价有机框架（COF）等。FlyTOF基于我司的MagicBox主机研制而成，配备便捷的上位机控制和数据测量软件，可助力客户进行快速、准确的测量。FlyTOF是东谱科技源头研发产品，是业内首款自动化、集成化的飞行时间法迁移率测试商业化设备。

迁移特性是半导体最为基础的性质之一，是半导体在电子学和光电子学等领域进行应用的基础。半导体的迁移率定义为单位电场下载流子的平均漂移速度。TOF迁移率测试方法直接由迁移率的定义发展而来。相比于一些间接的迁移率测试方法，如空间电荷限制电流（SCLC）法等，TOF的方法被认为是最接近“真实”迁移率的一种测量方法。通过TOF瞬态光电流信号的分析，可以得到电子迁移率、空穴迁移率等参数；用户还可以利用这些数据，结合材料的物理模型进行分析，得到杂质浓度、缺陷、能带混乱度、电荷跳跃距离等参数。

作为TOF迁移率测试方法商业化应用的先行者，东谱科技已携手客户广泛探索了FlyTOF在有机半导体、硅基半导体、钙钛矿半导体、二维材料、共价有机框架等领域的应用。东谱期待与您共同开拓FlyTOF更多的应用领域。

产品特点

□ 载流子迁移率测量值覆盖10^-9~10^6 cm^2/(V.s)

□ 专业的信号调教，电磁兼容噪声小

□ 行业最先进的TOF测试功能

□ 软件自动控制，测试快速便捷

□ 快速换样装置，惰性气体氛围测试

□ 可实现宽温度范围的变温测试（选配）

□ 可通过可视化系统看到光斑照射情况

□ 可灵活耦合各种类型的激发光源

产品功能

□ 飞行时间法瞬态光电流测量

□ 半导体材料电子迁移率测量

□ 半导体材料空穴迁移率测量

□ 载流子浓度测量

□ 载流子寿命测量

□ 可选变温测量

□ 可选Lateral-TOF测试功能及附件

□ 可选配TOF二维扫描（mapping）功能及附件

功能说明：

标配TOF：纵向TOF；

Mapping功能：可以对TOF的信号进行二维平面的成像；

Lateral-TOF功能：可以以水平的方式对样品的迁移率进行测试。

产品应用

□ 有机半导体	□ 量子点半导体	□ 元素半导体（Si、Ge等）	□ 金属-有机框架（MOF）	□ 二维材料
□ 宽带隙第三代半导体	□ 钙钛矿材料	□ 化合物半导体（InGaAs等）	□ 共价有机框（COF）	□ 其它半导体材料

规格型号

规格配置	高性能版（E300）	标配版（S300）	经济版（W300）
TOF标配功能	√	√	√
Mapping模块	可选	可选	×
Lateral-TOF	可选	可选	×
* Lateral-TOF： □ 包含显微系统、探针系统、针对Lateral-TOF的光路及电子部件系统等，具有非标性质，详情请与销售专员联系。 * 可选配置/部件： □ 337nm 纳秒气体激光器； □ 532nm纳秒调Q固体激光器； □ 355 nm纳秒调Q固体激光器； □ Nd:YAG激光器 1064 nm、532 nm、355 nm、266 nm； □ 可调谐 OPO 激光器，波长范围：210-2400 nm。