TSS-5X-3红外线发射率测试仪

发布时间：2022年05月

北京华瑞森科技发展有限公司中国区域总代理：日本TSS-5X-3红外线发射率测试仪也称为TSS-5X红外线放射率测试器，远红外测试仪，本测量器可以用非常简单且高精度的方式,测量在常温中的各种材料的表面发射率。

TSS-5X-3远红外线发射率测试仪，TSS-5X-3远红外线放射率测试器，远红外测试仪早已经由材料科研单位、半导体产业等的单位采用。 广泛用于红外材料测量。

日本TSS-5X-3远红外线发射率测试仪应用：

1、在机器的热设计中必须使用的零件的发射率测量；

2、藉由放射温度计的测量物体来补正放射率；

3、各种零件的加工／处理前后的发射率比较；

4、其他、从零件的放射率求取物体本身的发射率等；

5、材料科学院、实验领域必须的检测分析设备。

日本TSS-5X-3远红外线发射率测试仪产品构成：

１．红外线照射源

藉由在一定温度中加热后的半球面黒体炉，在材料中集中照射。

２．红外线检验素子

从材料反射出的能量的一部分，射进半球面黒体炉的顶点的小孔，用一定比率做检验。

注：比率是依据光学系的构造来决定。

３．发射率演算回路

从反射能量检验器的输出，演算试料的发射率。

注：材料的反射率和发射率的关系式如下：r εε＝１－r

４．放射率表示値的校正

用发射率标准片（ε＝０．０６与０．９４）做校准.

测量原理：利用恒温放射的远红外线发射源，将能量照射后计算所反射的能量。

测量波长：2-22μｍ

测量范围：0.00-1.00

额定精度：±0.01

测量面积：Φ15mm

测量距离：12mm（固定探头的脚柱部）

被测物温：10-40℃（室温）

输　　出：0-0.1V，0-1V（满载）

使用温度：10-45℃

使用湿度：35-85%RH（未结露、霜之状态）

使用电源：AC100V ±10%，50/60Hz

外型尺寸：探头Φ51X137mm（0.5Kg）    

主机：H170X W306ｘD230mm（5Kg）

配件：发射率标准片0.94、0.06各一片。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途