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工商注册信息已核实!参考报价: | 面议 | 型号: | Agilent 8900 |
品牌: | 安捷伦 | 产地: | 美国 |
关注度: | 298 | 信息完整度: | |
样本: | 典型用户: | 暂无 |
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安捷伦三重四极杆 ICP-MSAgilent 8900 参考多项行业标准。完成超纯半导体级硫酸的检测。可以用在电子/半导体行业领域中的42 种元素项目。
使用 Agilent 8900 半导体配置 ICP-MS/MS,成功测定了半导体级 H2SO4 中超痕量水平下的 42 种元素。1/10 稀释的 H2SO4 中,20 ppt 水平(Si 为 2 ppb)下的所有元素均获得了优异的加标回收率,证明8900 ICP-MS/MS 方法适用于高纯度工艺化学品的常规分析。
卓越的性能
受控的反应化学过程提供一致、可靠的结果
分离重叠的同量异位素,超越高分辨率 ICP-MS 的能力
极低检测限,甚至可用于以前难以检测的元素,例如 S、Si、P
功能强大的 ICP-MS MassHunter 软件可简化您的工作流程并使方法开发自动化
无与伦比的灵活性
标准 4 通道反应池气体控制
独特的母离子/子离子扫描模式,清除呈现反应过程
用于研究和方法开发的出色通用的 ICP-MS
强大的技术助您完成前所未有的更多工作
监测原料化学品和硅片加工浴中的低水平超痕量污染物
定量分析未知蛋白质和多肽,以准确测量低浓度的异质元素硫和磷
对复杂环境、食品和生物样品中低至亚 50 纳米的纳米颗粒进行表征
以更高的准确度测量所有食品样品中的低浓度硒、砷和各种形态的砷
安捷伦ICP-MSAgilent 8900 使用 Agilent 8900 ICP-MS/MS 在MS/MS 模式下测定超纯半导体级硫酸中的痕量元素信息由安捷伦科技(中国)有限公司为您提供,如您想了解更多关于安捷伦ICP-MSAgilent 8900 使用 Agilent 8900 ICP-MS/MS 在MS/MS 模式下测定超纯半导体级硫酸中的痕量元素报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途