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工商注册信息已核实!领域: | 地矿/钢铁/有色金属 | ||
样品: | 金属 | 项目: | 硅元素 |
参考: | GB223.5-2008,GB 5687.2-2007 |
方案文件名 | 下载 |
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使用 ICP-OES 测定金属样品中的硅元素 |
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本文介绍了一种使用 ICP-OES 测定金属样品基体中,氢氟酸介质下硅元素的方法,采用了安捷伦无硅涂层的耐氢氟酸进样系统,克服了常规 ICP-OES 分析氢氟酸介质空白值高的缺点,获得了较低的空白值,适合于测定多种金属基体中不同含量范围的硅元素。
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