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安捷伦科技（中国）有限公司
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| 产地类别：国产 | 供应商性质：生产商 |
中图仪器白光干涉测厚仪
中图W1白光干涉仪 SuperViewW系列
中图W1白光干涉仪用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。它基于白光干涉原理，以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸，结果组成：
1、三维表面结构：粗糙度，波纹度，表面结构，缺陷分析，晶粒分析等；
2、二维图像分析：距离，半径，斜坡，格子图，轮廓线等；
3、表界面测量：透明表面形貌，薄膜厚度，透明薄膜下的表面；
4、薄膜和厚膜的台阶高度测量；
5、划痕形貌，摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量；
6、微电子表面分析和MEMS表征。
还在为“分辨率不足，纳米级微观形貌无法量化"“多材质测量需频繁换设备，效率低下"烦恼吗？作为深耕超精密测量领域的专业国内白光干涉仪品牌厂家，中图仪器凭借自主研发的SuperView W系列，依托白光干涉技术与复合型EPSI重建算法，粗糙度RMS重复性低至0.005nm，形貌重复性达0.1nm，轮廓度（台阶测量）准确度仅0.3%。
在微纳测量领域，精度就是生命线。中图W1白光干涉仪以白光干涉技术为核心，各项指标均达到行业水平。
1.重复性：粗糙度RMS重复性可达 0.005nm（依据ISO 25178标准，测量Sa为0.2nm硅晶片）。
2.台阶测量精度：准确度达0.3%，重复性0.08% (1σ)。
3.超高分辨率：Z向扫描范围10mm，形貌重复性STR达 0.1nm。
4.气浮隔振：标配气浮式隔振底座，有效隔离地面振动噪声，确保每一次微观测量的精准。
用数据说话，为您的科研与生产提供最严谨的数据支撑。
注：产品参数与配置以实际交付为准，中图仪器保留根据技术升级调整相关内容的权利，恕不另行通知。
如需获取产品演示视频、行业案例手册或免费样品测试，欢迎随时咨询中图仪器。
中图W1白光干涉仪由深圳市中图仪器股份有限公司 为您提供，如您想了解更多关于中图W1白光干涉仪报价、参数等信息 ，欢迎来电或留言咨询。
注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途。
