江苏一六XAVU真空型多功能XRF_涂镀层测厚仪_X荧光光谱仪

XAVU真空型多功能XRF_涂镀层测厚仪_X荧光光谱仪

XAVU是一款一机多用型X荧光光谱仪，配备智能抽真空系统，高性能的屏蔽性能去除大气对低能元素的影响，对Na、Mg、Al、Si、P等轻元素镀层厚度及成分测试精度更高.测量C-U元素，Li-U的涂镀层。更广的分析范围：用于地矿、合金、及贵金属等物质中Na(11)-U(92)元素的成分分析；可检测Li(3)-U(92)的涂镀层分析无损变焦检测技术：可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-30m

XAVU是一款一机多用型X荧光光谱仪，配备智能抽真空系统，高性能的屏蔽性能去除大气对低能元素的影响，对Na、Mg、Al、Si、P等轻元素镀层厚度及成分测试精度更高.测量C-U元素，Li-U的涂镀层。

更广的分析范围：用于地矿、合金、及贵金属等物质中Na(11)-U(92)元素的成分分析；可检测Li(3)-U(92)的涂镀层分析

无损变焦检测技术：可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-30mm

自主研发EFP算法：先进的EFP算法不但对多层测试精准、校准方便，而且解决了多层合金、上下元素重复镀层及渗层的检测难题

智能超密闭真空系统：智能超抽密闭真空系统，排除环境对检测结果的干扰，测量范围更广，测量结果更准确

先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限

高性能探测器：高性能SDD硅漂移探测器，测量精度纳米级

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途