纳克微束(北京)有限公司
400-6699-117转6450
分析测试百科网 > 纳克微束 > 应用文献
白银会员

诚信认证:

工商注册信息已核实!
扫一扫即可访问手机版展台
  • FE-1050电镜应用于高温合金材料分析 发布时间:2023-12-05
    高温合金是一类可在600℃及以上的高温及一定应力作用的恶劣环境下长期工作的材料,其在诸如国防、能源、海事、航空以及其他需要稳定可靠材料的关键领域内起着无法取代的作用。高温合金优异的高温性能最重要的因素之一是与镍基体共格的Ni3Al型析出相(Gamma Prime Precipitates,γ´相),
  • FE-1050电镜应用于半导体器件失效性分析 发布时间:2023-12-05
    半导体器件失效分析是各大晶圆制造、器件封装工厂最常用的检测分析手段,芯片或器件的失效引发的轻微后果可能是期间寿命不合格,工作稳定性难以保证,严重则可能引发漏电、火灾等危险事件,危及人身财产安全。因此,失效分析的主要目的是借助各类测试、分析技术锁定失效发生的原因,从而为生产环节改进工艺提供依据,甚至可
  • FE-1050电镜应用于半导体缺陷分析 发布时间:2023-12-05
    半导体器件生产过程中,缺陷的存在会不同程度影响产品质量,例如关键位置的金属类夹杂可能会引发器件的短路,清洗溶液不纯净引入的有机、无机析出物可能会导致光刻、离子注入、沉积等环节的失败,进而引发晶圆图形与设计不符等问题。因此,晶圆生产制造过程需要对缺陷进行实时监控,并对大量重复出现的缺陷进行分析溯源,以
移动版: 资讯 直播 仪器谱

Copyright ©2007-2024 ANTPEDIA, All Rights Reserved

京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号