特长 Features· 膜厚测量中必要的功能集中于头部· 通过显微分光高精度测量绝对反射率（多层膜厚、光学常数）· 1点只需不到......
膜厚量测仪FE-3的特点使用分光干涉法原理配置高精度FFT膜厚分析引擎（专利 第4834847号）可通过光纤灵活构筑测量系统可嵌入各种制造设备可实时测量膜厚支持......
反射式膜厚量测仪的产品特点完美对应紫外到近红外（190～1600nm）广波长范围。利用高分辨率传感器，可对应厚膜以及超厚膜样品类型：0.8～1mm利用非线性*小......
膜厚量测仪FE-300的特点测试范围涵盖薄膜到厚膜基于绝对反射率光谱分析膜厚小型・低价，精度高无复杂设定，操作简单，短时间内即可上手外观新颖，操作性提高非线性*......
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