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二次离子质谱
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参考报价: 面议 型号: EQS
品牌: 暂无 产地: 暂无
关注度: 63 信息完整度:
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仪器简介:
EQS 是差式泵式二次离子质谱(SIMS-Secondary Ion Mass Spectrometer ‘Bolt-On’ probe),可分析来自固体样品的二次阴、阳离子和中性粒子。采用zei新技术的SIMS 探针,便于连结到现有的UHV表面科学研究反应室。

 


技术参数:
应用:

・ 静态 /动态SIMS
・ 一般目的的表面分析
・ 整体的前端离子源,便于RGA和 SNMS
・ 兼容的离子枪/ FAB 枪
・ 成分/污染物分析
・ 深度分析
・ 泄漏检测
・ 与Hiden SIMS 工作站兼容


主要特点:
・ 高灵敏度脉冲离子计数检测器,7个数量级的动态范围
・ SIMS 成像,分辨率在微米以下
・ 光栅控制,增强深度分析能力
・ 45°静电扇形分析器, 扫描能量增量 0.05 eV/ 0.25eV FWHM.
・ 所有能量范围内,离子行程的zei小扰动,及恒定离子传输
・ 差式泵3级过滤四极杆,质量数范围至2500amu
・ 灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器
・ Penning规和互锁装置可提供过压保护
・ 通过RS232、RS485或Ethernet LAN,软件 MASsoft控制

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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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