View X 高解析度X光无损探伤仪主要适用于BGA、CSP、flip chip、半导体内部以及多层电路板的质量检测，并能快捷清晰地检测电路板的焊接情况，特别适用生产过程的质量检测和返修后的检测。
View X为X光机系列中的一组或称为手动探伤仪，它包括一个基于Windows系统平台的工作台（ViewX-1000)，并配有图像多样采集功能，能够做到图像同步采集与分析。
View X光机完全体现了SCIENCECOPE设计中的集使用简单、图像清晰，价格低廉的完善理念。

整机参数：
尺寸：高：1700毫米（68英寸），宽：1450毫米（58英寸），直径：1300毫米（52英寸）
重量：770公斤（1700lbs）
载物台高度：900毫米（36英寸）
定位系统：
◆XY轴电动可调，总扫描范围：450毫米×400毫米(18英寸×16英寸)
◆X光管Z轴电动可调
◆X光管探测器手动可调
◆载物台可作+/-75°倾斜
X光管规格:
◆能量:0-130千伏(80100130千伏可选)
◆功率:10W(据光管不同而定)
◆聚焦范围:4.5-7微米
◆X光管类型:封闭管并配有末端视窗设计
增强屏(探伤)规格:
◆探伤器型号:4/2”双重扫描增强屏
◆照相功能:高品质CCD
计算机系统:
◆奔腾4处理器
◆Microsoft Windows XP操作系统
◆视频采集卡
◆ViewX-1000专业图象处理工作台,并带有强大的检测增强软件
◆高分辨率的17英寸CRT平面显示器,外置10-100兆的网络终端,可方便快捷地进行高速网络连接
系统性能:
◆探测范围:可变数；可从1.5毫米至50毫米
◆探测面积:450毫米×400毫米(18英寸×16英寸)
◆放大率:125倍几何放大率,再加上电脑放大可达到600倍
◆安全操作温度:0-40℃(32-99°F)
◆功率消耗:1200瓦
◆线电压:110-230VAC,50/60Hz
◆完全互锁:ViewX系统遵守美国及国际所有箱柜式X光仪器的安全标准,且符合并超越了所有CDRH的指导要求
系统选项
◆X/Y可动编程
◆X光管:80100130千伏可选

系统特点：
●zei高可达到130千伏，5微米聚焦的X光管能产生125倍的几何放大率，再加上电脑放大可以达到600倍的放大率
●观察范围可从1.5毫米至50毫米
●为分析视觉之间的相关性而特设的激光笔
●X光管探测器的Z轴可动控制（FOV和放大率控制）
●载物台可作+/-75°倾斜

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途