贝克曼库尔特DelsaNano C电泳光散射固体及薄膜Zeta电位分布分析仪

技术参数：

测量范围： 

1.适合测量各种固体、薄膜、纤维等；

3.ZETA电 势：- 200 mV ~ +200 mV 

4.电迁移率：-10μm・cm/sec・V ~ 10 μm・cm/sec・V 

5.可配合自动滴定仪进行动态pH滴定测量

光 源： 

     双固体激光，30 mW 

探测器： 

     高性能光电倍增管 

样品池： 

    固体平板样品池

DelsaNano C  宽动态（高浓度）Zeta电位分析及纳米粒度分析仪

性能特点： 

★ 当前惟一的应用电泳光散射原理满足自极低浓度至高浓度Zeta电位测量的仪器

★ 当前惟一的应用电泳光散射原理测量固体平面或薄膜平面Zeta电位的仪器，可通过固液介面Zeta电位分析，表征吸附力或附着力。（此项为可选项）

★ 大角度测量（背散射技术）高浓度样品的纳米粒径

★ 同时满足zei新的ISO 22412标准及旧的ISO13321 标准

★ 纳米粒径测量范围：0.6 nm ~ 7 μm

★ Zeta电位测量范围：-200mV ~ +200mV

   粒径的适合范围：0.6 nm ~ 30 μm

★ 宽动态的纳米粒径测量浓度范围：0.001%～40%

★ 宽动态的Zeta电位测量浓度范围：0.001%～40%

★ 电迁移率：-1.2x10^-3 cm²/ V.s ~ +1.2x10^-3 cm²/ V.s

★电导率：zei大可至200mS/cm

★ 电压范围：0伏 ~ 300伏

★ 分子量：1x 10³ ~ 3x10⁷ 道尔顿

★ 测量原理：光子相关光谱法（动态光散射），电泳光散射法

★ 分析模式：粒径：COTIN、NNLS及Marquardt ;

Zeta电位：Smoluchowski、Huckel及other （input value）

★ 应用技术：背散射技术、FST 透明电极zl技术；

平面样品池测量技术（可选项）

★ 固体激光：双光源，波长658nm, 功率30 mW

★ 检测器：高性能光电倍增管（PMT），真正的光子计数器

★ 相关器：对数相关器、线性相关器；zei大1,000,000等效通道；

★ 具有时域法及时间间隔法模式，可准确探测极稀浓度或小于3nm纳米样品的单个光子信号。

★ 样品池：高浓度样品池、流动样品池、标准粒径池；固体平面样品池（可选项）

★一次性样品池：避免不同样品间的污染

★石英玻璃样品池：适用普通样品及有机溶剂样品，比插入式的更少的干扰、更低的成本。

★ 多角度分析：165°、15°及30°

★ 自动电子温控：低于环境温度15℃~ 90℃；温度精度：±0.1℃；若采用低温状况测量，可使用氮气吹扫，以防止样品池镜片冷凝，保证正常的测量。

★ 具备智能32级自动衰减和手动设定功能

★ 智能寻找及定位zei佳信号位置

★ 实时监控显示测量纳米粒径、Zeta电位的整个过程

★ 可升级配置固体或薄膜平面Zeta电位测量模块（此项为可选项），以作固液介面Zeta电位分析。提供新颖的平面固体材料、薄膜材料的吸附力、附着力表征方法。

★ 选择配置自动滴定仪（此项为可选项）可动态分析。动态测量Zeta电位或粒度随PH酸度值、离子浓度或混合物浓度等的不同引起的变化趋势，自动描绘滴定曲线。

★ 自动滴定仪配有氮气吹扫装置以保护样品与空气隔离，防止样品氧化。

★ 测量样品的PH值范围：1~13

★ 操作及分析软件：

1）图形化软件设计、支持窗口拖放、个性化安排功能窗口；

2）SOP设计师功能，使纳米粒径分析、Zeta电位分析中的运行参数、分析参数、样品池参数及稀释液参数均可自动按设置好的SOP程序运行；

3）单峰分析及多峰分析功能；

4）再分析功能：可对原始数据进行参数调整后的重新分析；

5）丰富的分析模式：光强-粒径分布、体积-粒径分布、数目-体积分布的平均值、峰值、D10、D50、D90等的曲线及列表；迁移率分布、Zeta电位分布等；

6）提供PDF打印报告格式；

7）可批量导入、导出原始数据。