上海仪电物光SGW® X-4显微熔点仪
【主要技术参数】
仪器型号 | SGW® X-4 |
测量范围 | 室温~320 ℃ |
测量方法 | 目视 |
测量模式 | 毛细管法、热台法 |
zei小示值 | 1℃ |
重复性 | ≤200℃±1℃,>200±2℃ |
观察方式 | 单目显微镜 |
放大镜倍数 | 40× |
电源 | 220V±22V,50Hz±1Hz |
仪器尺寸 | 30mm×22mm×44mm |
仪器净重 | 4.5kg |
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