在过去30多年来，TSI SMPS扫描电迁移率粒径谱仪帮助研究者取得了气溶胶研究的新突破，并协助校准参考材料和其它气溶胶仪器。美国国家标准技术研究所（NIST）和世界各地的许多其它参考实验室使用TSI SMPS进行亚微米粒径分布测量。第三代3938型SMPS采用模块化、基于组件的设计，不但具有非常高的粒径分辨率，还具有快速扫描（每次扫描小于15秒）和自动组件识别功能。TSI SMPS易于使用，并可以为研究人员提供zei高质量数据，是研究人员进行纳米粒子粒径分布测量的zei佳选择。

TSI推出的SMPS TM 扫描电迁移率粒径谱仪被广泛应用于测量1微米以下的气溶胶粒径分布的测量标准。该系统同样被应用于对液体悬浮颗粒进行精确的纳米颗粒粒径测量。美国国家标准与技术局（NIST）使用TSI差分静电迁移率分析仪（DMA）对60nm和100nm的标准参考粒径进行测量。SMPS TM 扫描电迁移率粒径谱仪粒径测量是审慎的技术，在该技术方法中计数浓度会被直接测量而无需假设粒径分布的形状。该方法不依赖于粒子或液体的折射率且具有高度的绝对粒径测量精度和测量可重复性。TSI的3938型仪器是SMPS第三代产品，历经30年深受研究者信任。

应用

• 纳米技术研究和材料合成

• 大气研究和环境检测

• 燃烧和发动机排放研究

• 室内空气质量测量

• 成核/凝结研究

• 吸入毒理学研究    

包含组件

• 与您自选DMA差分静电迁移率分析仪配套的静电分级器

• 七款凝聚粒子计数器之一

• Aerosol Instrument Manager®气溶胶仪器管理软件  

用于数据采集的电脑须单独购买。

产品详情  

TSI  的扫描电迁移率粒径谱仪广泛用于测量空气中的颗粒尺寸分布的标准。这一系统也经常用来使悬浮在液体中的颗粒的颗粒尺寸的测量精度。美国国家标准与技术研究所（  NIST ）使用一个 TSI DMA 尺寸为 60 nm 和 100 nm  的标准尺寸的参考材料。扫描电迁移率粒径谱仪是一个精确地粒径检测技术，没有假设颗粒的形状粒度分布而直接测量数浓度。该方法是独立的颗粒或流体的折射率，并具有高度的绝对尺寸精度和测量重复性。  TSI 模型 3938  是粒径谱仪的第三代；可信的研究人员超过 30 年。 

内容包括   

静电分类器与您选择的 DMA  柱 

可兼容六种 CPC   

气溶胶仪器 ®  软件经理 

数据采集计算机必须单独购买。

粒径谱仪

TSI扫描电迁移率粒径分布谱仪是一款高分辨率纳米粒子粒径分析仪，长期以来一直被誉为是进行包括纳米研发在内的纳米应用纳米粒径表征的研究人员之选择。 

TSI SMPS™ 粒径谱仪是广泛用作检测空气悬浮颗粒粒径分布的标准方法。这些粒径谱仪也经常用于对液体中悬浮粒子进行精确的纳米粒径检测.美国国家标准与技术研究所 (NIST) 采用 TSI DMA 对液体中悬浮的 60nm 和 100nm 标准参考物质进行分粒（聚苯乙烯乳胶球或 PSL 球）。 

SMPS™ 粒径谱仪粒径检测技术是一种谨慎的技术，它可直接检测粒子浓度，而无需假定粒子尺寸分布形状。这种方法独立于粒子或流体的折射率，具有高度绝对的尺寸精度和检测可重复性。TSI 3936 扫描电迁移率粒径分布谱仪 (SMPS) 深受科研人员的信赖，已提供了三十多年的高质量数据。