老化测试机及老化测试板

MICRO CONTROL COMPANY是世界领先的老化测试设备制造商。成立于1972年的MCC公司为高功率老化测试提供独立温控方案和为逻辑/存储器芯片提供老化测试方案。集成电路老化测试载板的设计以及制作，为不同用户提供集成电路老化测试整体解决方案，满足不同用户的低、中和高功率测试要求。
MCC系统特性：MCC特有的高功率老化测试系统，满足不同用户的逻辑以及存储器测试要求

HPB-5B 系统
• 独立温控，空气冷却系统
• 单颗zei大功率150W
• 128个独立I/O，多达8M或32M矢量深度，超过1G的Scan Memory
• 10 MHz rep rate, 400 MHz high speed clock, 1ns timing resolution

MCC特有的独立温控技术（Individual Chip Temperature Control）
1、为所有集成电路提供zei适宜的老化测试温度
2、为所有老化测试中的集成电路提供精确的电压等级和工作功率
3、实时监控每个老化测试集成电路的实际温度和实际消耗功率
4、老化测试中，能够提供zei精确汇合温度的唯一工具