万深LA-S植物根系分析仪及系统

2、人工辅助修正：图像可放大缩小和局部观察，可实现鼠标区域选择统计、对污染区的辅助裁剪或橡皮擦修正。
3、统计效果监视：监视和修正植物对象分析的精度。
4、自动杂质剔除：根据尺寸等方面的区别，进行自动杂质剔除。
5、辅助测量功能：
尺寸标定：自带标定功能，实现半自动的尺寸标定，XY向可分别标定修正；
长度测量：具有跟随放大镜功能，通过鼠标拖动精确测量；
6、数据导出
分析图像、分布图、结果数据可保存，分析结果输出至Excel表，可输出分析标记图。
LA-S型植物根系分析仪系统标配光学分辨率4800×9600、A4加长的Microtek ScanMaker i800双光源彩色扫描仪，zei大分析测量面积：反射稿为A4加长幅面（35.6 cm×21.6 cm），扫描根面积30 cm×20 cm，可分辨的zei小尺寸0.008 ×0.008 mm。植物图像分析测量精度（由扫描仪决定，可软件部分校正）：X向≤±0.5 %，Y向≤±0.25%；长度测量重现性误差<±0.25%；面积测量重现性误差<±0.25%；台间测量差异<±0.25%。测量分析时间：30~60秒。

推荐选配：品牌一体机电脑（酷睿双核CPU /4G内存/1G独立显卡/500G硬盘/ 19.5”彩显 /无线网卡）。若需大幅面分析，请选配：光学分辨率2400×4800dpi、A3的Microtek Phantom 9900XL plus扫描仪。

若需要对原位根系图像进行分析，请单独选择万深LA-S根系分析系统增强版（原位根系图像分析系统）

应用万深分析仪器 发表的部分学术论文 已有逾319篇，详见万深检测官网