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日本 PNP Tera Evaluator太赫兹时域光谱仪

tel: 400-6699-117 1000

贝拓科学太赫兹光谱仪, 第一个商用的非接触式测量4和6英寸晶片的太赫兹时域光谱测量系统。 它可以适应所有半导体材料! 这是一个新的太赫兹时间......

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技术特点
【技术特点】-- 日本 PNP Tera Evaluator太赫兹时域光谱仪

用特赫兹波谱的光谱学


       太赫兹光谱是在太赫兹光谱区域(THz)中测量的,它由位于光和电波之间的电磁频谱的边界区域中的频率构成。

       电场强度和相位信息可以同时测量,通过对电磁脉冲的电场强度的时域波形的测量。

      通过分析参考样品和样品的时域波形的差异,可以获得样品的复介电常数和复折射率的频率依赖性。

产品规格


测量系统太赫兹时域椭圆光度法
测量信号电场强度的时间波形
输出数据椭圆参数,复杂折射率/复合介电常数/导电率,使用分析程序
样品装置水平配置(测量面:上面)
测量区中心波长接近780-800纳米,脉冲宽度小于100 f
(可以使用外部激光源)
飞秒脉冲激光器40 GHz ~ 4 THz 以上(截止频率)
电脑配置与Windows 7兼容(32位版)
PC(上图)Tera Evaluator需要1个有线局域网端口和2个USB端口来连接到翅目评估器。
软件测量软件和分析软件
尺寸规格/重量732 (W) x 585(D) x 500 (H) mm, 大约85kg(排除电线和突出物等))
电源要求AC100 V(50/60 Hz)10 A(建议为激光电源提供一个额外的电源插座)



【技术特点对用户带来的好处】-- 日本 PNP Tera Evaluator太赫兹时域光谱仪


【典型应用举例】-- 日本 PNP Tera Evaluator太赫兹时域光谱仪


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