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美国RHK 扫描探针控制单元R9 Plus

tel: 400-6699-117 1000

RHK Technology信号采集处理, R9plus 扫描探针显微镜控制器

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技术特点

【技术特点】-- 美国RHK 扫描探针控制单元R9 Plus

产品简介:

继美国RHK Technology公司推出的革命性扫描探针显微镜控制平台R9取得极大成功之后,其研发团队通过升级其软硬件和功能隆重发布了R9plus控制器。相比于R9控制器,R9plus性能提升主要包括:

> 全新的FPGA固件构架极大地提高了配置灵活性

> 对于高级测量提供了60多个可用的数据通道

> 数据流和扫描速度均提高5倍

> 优化的高压输出电路板,噪声水平降低到R9控制器的1/4

> 两个扫描探针控制系统

> 可设置任意密度的网格点进行图谱测量


产品特点


极低噪音与超高稳定性!


             单箱集成所有输入、输出及控制模块


                              R9plus更低的噪声水平


            极低噪声,超高速度和精度的数模转换接口


                      线性电源提供极低噪声密度

开放性与灵活性极高!


HDLTM软件界面 


 R9扫描探针显微镜控制平台采用了RHK独有的IHDLTM图像化硬件描述与编辑软件,通过简单的“拖放”操作,即可完成对硬件和实验的所有设置。
同时IHDLTM全面兼容LabVIE和MATLAB,为实验的设计提供了无限的可能。


特制的硬件系统


采用RHK特制的且优化设计的硬件模块,利用RHK UltraDAC技术以极低的噪音水平对所有的信号进行数字化运算和处理。
硬件模块包括:PLLs, lock-ins, filters, amplifiers, phase shifters, counters等。



强大而优异的功能


将所有SPM的功能模式集中到一起,通过软件即可快捷的对硬件系统进行重新定义。
无需外界模块和设备可实现包括STM、dI/dV隧道谱、接触式&非接触式AFM、导电AFM、开尔文探针显微镜KFM、SNOM等功能。
兼容所有商业化的STM/AFM系统,并实现对他们的全面控制。

功能强大,性能可靠!



> 支持所有的扫描探针显微镜操作模式,包括:STM、dI/dV谱、接触式和导电式AFM、非接触式AFM、开尔文探针KFM等。不需要添加任何外置设备;
> 支持音叉式和微悬臂式AFM;
> 支持所有非接触式AFM模式 -- PLL、Lock-in、Self Oscillation。接触式AFM模式 -- Constant Excitation、Constant Signal和Q-control等。采用全数字式Phase Shifter,保证了系统的稳定性;;
> PLL和Multiple Lock-in通道一起使用,可以同时采集多个谐频信号;
> SNOM:多个高速输入通道可以同时对表面成像,并采集光学信号(模拟或脉冲计数);
> KFM:无需添加任何外置的设备,即可完成KFM实验;
> 全面兼容LabVIEW和MATLAB等语言与程序;



【技术特点对用户带来的好处】-- 美国RHK 扫描探针控制单元R9 Plus


【典型应用举例】-- 美国RHK 扫描探针控制单元R9 Plus



厂家资料

地址:RHK Technology, Inc. 1050 East Maple Road Troy, MI 48083 USA

电话:400-6699-117 转 1000

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