双模式表面三维轮廓仪
tel: 400-6699-117 转 1000阿尔派轮廓仪/粗糙度仪, 仪器简介: NanoMap-D双模式扫描三维表面轮廓仪是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款测量计量型设备。既可以 用于......
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产品型号:NanoMap-D(0)
品牌:阿尔派
产品产地:美国
产品类型:进口
原制造商:阿尔派
状态:在售
厂商指导价格: 20~35万元[人民币]
上市时间: 2011年
英文名称:NanoMap-D(0)
优点:仪器简介: NanoMap-D双模式扫描三维表面轮廓仪是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款测量计量型设备。既可以 用于科学研究,也可以用于工业产品的检测。 1、三维表面结构:粗糙度,波纹度,表面结构,缺陷分析,晶粒分析等 2、二维图像分析:距离,半径,斜坡,格子图, 轮廓线等 3、表界面测量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面 4、薄膜和厚膜的台阶高度测量 5、划痕形貌,摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量 6、微电子表面分析和MEMS表征
参考成交价格: 20~35万元[人民币]
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厂家资料
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电话:400-6699-117 转 1000
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- TS 930-1976 轮廓法触针式表面测量仪 渐近轮廓仪 轮廓记录仪
- ISO 1880:1974 表面粗糙度轮廓法测量仪.逐级轮廓转换触针轮廓仪.轮廓记录仪
- ISO 1880:1979 表面粗糙度轮廓法测量仪.逐级轮廓转换触针轮廓仪.轮廓记录仪
- ISO 3274:1975 表面粗糙度轮廓法测量仪.连续轮廓转换触针轮廓仪.M系统轮廓触点仪
- DS/ISO 1880:1981 用轮廓法测量表面粗糙度的仪器.逐级轮廓转换触针轮廓仪.轮廓记录仪
- JUS M.A1.034-1980 表面粗糙测量仪器 轮廓接触法(触针) 轮廓形变仪器.轮廓记录仪器
- DS/ISO 3274:1981 用轮廓法测量表面粗糙度的仪器.连续轮廓转换触针轮廓仪.M系统轮廓触点仪
- CSN ISO 1880:1993 用轮廓法测量表面厚度的仪器.轮廓渐进转换的接触(触针)式仪器.轮廓记录仪
- CSN ISO 3274:1994 用轮廓法测量表面厚度的仪器.轮廓顺序转换的接触(触针)式仪器.接触式轮廓仪,系统M
- TS 2495-1977 轮廓法测量表面粗糙度的仪器.轮廓顺序转换的接触(触针)式仪器.接触(触针)式轮廓测量仪.系统M