技术特点
【技术特点】-- 双模式三维形貌仪
原子力显微镜
探针式轮廓测量能够进行材料在纳米尺度水平的测试。提供扫描范围70 x70um,探针更换简单。
• zei好的技术来实现Z和XY方向上的高分辨率
• X,Y和Z方向上纳米级的分辨率和精度。
• 线性XY压电陶瓷扫描
• 包括振动和不振动的模式
• 可选的侧向力和相位模成像
【技术特点对用户带来的好处】-- 双模式三维形貌仪
【典型应用举例】-- 双模式三维形貌仪
请扫描二维码查看详细参数
售后服务
我会维修/培训/做方法
如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商,都可参与登记,我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。