技术特点
【技术特点】-- 美国Rtec三维轮廓仪
原子力显微镜
探针式轮廓测量能够进行材料在纳米尺度水平的测试。提供扫描范围70 x70um,探针更换简单。
zei好的技术来实现Z和XY方向上的高分辨率
X,Y和Z方向上纳米级的分辨率和精度。
线性XY压电陶瓷扫描
包括振动和不振动的模式
可选的侧向力和相位模成像
【技术特点对用户带来的好处】-- 美国Rtec三维轮廓仪
【典型应用举例】-- 美国Rtec三维轮廓仪
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