产品型号：UP- WLI+AFM

品牌：Rtec

产品产地：美国

产品类型：进口

原制造商：Rtec

状态：在售

厂商指导价格：未提供

上市时间： 2011年

英文名称：UP- WLI+AFM

优点：特点：一台设备上集成非接触式白光干涉形貌仪+高精度原子力显微镜 白光干涉 白光干涉能够进行高分辨率图像的扫描，对表面进行分析。两种工作模式-相移和白光扫描模式,能够高精度测量粗糙或者光滑的样品表面。