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Rtec UP 台阶仪

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Rtec台阶仪, 美国Rtec双模式台阶仪 特点:一台设备上集成非接触式白光干涉形貌仪+高精度原子力显微镜

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白光干涉
 
白光干涉能够进行高分辨率图像的扫描,对表面进行分析。两种工作模式-相移和白光扫描模式,能够高精度测量粗糙或者光滑的样品表面。
 
•      zei好的技术来实现高Z向分辨率
 
•      白光干涉法和相移两种模式实现Z方向的高分辨率。
•      快速图像处理系统达到400万像素
•      四色LED相机
 
•      更大的垂直测量范围达10毫米
 
•      150 mmx150mm马达控制平台。
 
•      样品粗糙度,粗糙表面高度抛光后的光洁度以及表面结构测量,如陶瓷、塑料和辊钢。
 
•      SPIP专业数据分析软件


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