奥林巴斯BX53M金相显微镜

高级的显微观察 便捷的显微操作

采用模块化设计的BX3M系列具备适用多种材料科学和工业应用的多功能性。通过与奥林巴斯Stream软件更加出色的集成，BX53M为标准显微镜和数字成像用户提供了从观察到报告创建的无缝工作流程。

选择最佳型号

六种BX53M推荐配置让您获得选择所需功能的灵活性。

• 通用：入门，标准，高级

• 专用：荧光，红外，偏振

• 多种配置满足用户需求

• 模块化设计，按自己的方式打造您的系统

舒适且使用方便

BX53M利用精心设计且易于使用的控件让复杂显微镜检查任务得到简化。用户无需进行深入培训即可充分使用显微镜功能。BX53M简单、舒适的操作还可通过最大限度减少人为错误提高可重复性。

• 简易照明器

• 直观的显微镜控制

• 快速发现焦点

• 均匀一致的照明

• 简便且符合人体工学的操作

• 轻松恢复显微镜设置

• 基本测量功能

多功能

BX53M保留了诸如明场、暗场、偏光和微分干涉等常规显微镜的传统对比方法。随着新材料的开发，与使用标准对比法检测缺陷相关的许多难题均可通过先进显微镜技术解决，从而可以实现更加准确和可靠的检查。全新照明技术以及奥林巴斯Stream图像分析软件的图像采集选项为用户评估样品和存档检测结果提供更多选择。

• 让看不见的变得可见

• 创建全焦点图像

• 轻松移动全景载物台

• 亮区和暗区均可采集

• 可根据观察和分析偏好进行调整

• 可适用于各种样品

先进光学器件

奥林巴斯开发高品质光学器件的悠久历史令其打造了久经验证的光学品质以及具有出色测量精度的显微镜。

• 出色的光学性能

• 稳定的色温和高强度白光LED照明

• 支持精确测量

• 无缝拼接

波前像差控制

配置

高度可靠的模块化系统理念

从未如此简单

六种BX53M推荐配置让您获得选择所需功能的灵活性。

参见规格表

	条目	标准	高级	荧光	红外线（IR）	偏振
显微镜镜架	反射或反射/透射		反射或反射/透射		反射	透射
标准
选配					－	－
简易照明器	－			－	－	－
光阑图例	－				－
编码硬件	－				－
聚焦标尺刻度
光强度管理器				－	－
手动开关操作					－	－
MIX观察					－	－
物镜	根据您的应用从3种物镜中进行选择		根据您的应用从3种物镜中进行选择		红外物镜	POL物镜
载物台	根据您的样品尺寸从5种载物台中选择		根据您的样品尺寸从5种载物台中选择			POL载物台

材料科学的示范配置

模块化设计让各种配置均可满足用户的要求。
您可参见下面的一些材料科学配置示例。

BX53M反射和反射/透射光组合

BX3M系列有两种类型的显微镜镜架，一种仅用于反射光，另一种可同时用于反射光和透射光。两个镜架均可通过手动、编码或电动组件进行配置。镜架配备的ESD功能可以保护电子样品。

BX53M红外组合

红外物镜可用于需要透过硅成像才能看到图案的半导体检查、测量和处理应用。5X到100X红外(IR)物镜可实现从可见光波长到近红外波长的色差校正。对于高倍率工作，旋转LCPLNIR系列透镜的校正环即可校正因样品厚度导致的像差。使用一个物镜即可获得清晰的图像。

BX53M偏光组合

BX53M偏光组合的光学器件成为地质学家高对比度偏光成像的理想工具。诸如矿物鉴定、研究晶体光学特性以及观察固体岩石剖面等应用均可获益于系统的稳定性和精确的光学校准。

用于锥光/正交观察的Bertrand透镜

借助U-CPA锥光观察附件，可实现正交和锥光观察之间轻松快捷的切换。其可聚焦清晰的后焦平面干涉图。Bertrand视场光阑让锐利清晰的锥光图像成为可能。

各种补偿器和波片

六种不同补偿器可用于测量岩石和矿物薄片内的双折射。测量光程差范围为0至20λ。为方便测量以及获得较高的图像对比度，可利用Berek和Senarmont补偿器改变整个视场的光程差。

补偿器的测量范围

_{* R =光程差}
^{为了更精确地测量，建议将补偿器（U-CWE2除外）与干涉滤光片45-IF546一起使用。}

无应力光学器件

得益于奥林巴斯先进的设计和制造技术，UPLFLN-P无应力物镜可将内部应力降至最低限度。这意味着更高的EF值，最终获得更出色的图像对比度。

BXFM系统

BXFM可用于特殊应用也可集成到其他仪器上使用。模块化结构可通过各种特殊小型照明器和固定支架简单适配特定的环境和配置。