T1000 | T2100 | |
配置 | 单激光源 | 双激光源 |
测量模式 | 单波长测量 | 单波长和双波长测量 |
精度 | 1.0 nm 1 | 1.0 / 5.0 nm 1 * |
垂直分辨率 | 2.0 nm 1 | 2.0 / 10.0 nm 1 * |
可重复性 | 0.02 nm 1 | 0.02 / 0.05 nm 1 * |
动态可测垂直高度(无须扫描情况下) | 对于连续结构zei高可达 500 μm | 对于连续结构zei高可达 500 μm |
动态可测台阶高度 | · up to 1 μm 1 · up to 3.5 μm 2 | · up to 7 μm 1 · up to 22 μm 2 |
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