metrolux beam monitor 光束轮廓分析仪

•    节约调整光学器件和谐振器时间

•     过程处理的监控界面友好

•     在线分析和自动文档编制

•     数据被可靠的连接和传输到数据库

•     按照EN-ISO标准可扩展的Beamlux II软件用于光束分析

•     用于触发和同步操作的单脉冲分辨率

•     测量过程的高均匀性和长稳定性

    具有多种适合于分析光斑和光束位置以及用于均匀激光光束分析的软件工具，通过选择激光同步附件，可实现分析仪和脉冲激光的同步工作，以实现单个脉冲的光斑轮廓分析。

   探测器外壳采用特殊表面细化处理、光学部件采用光学增透膜把杂散光减小到zei小。