GAIA3 model 2016超高分辨双束扫描电镜系统 (FIB-SEM)
tel: 400-6699-117 转 5963泰思肯扫描电镜SEM, GAIA3 model 2016是一款可以挑战纳米设计应用的理想平台,它同时具备极佳的精度和微量分析的能力。GAIA3 ......
在线客服
产品型号:GAIA3 model 2016 GMH/GMU
品牌:泰思肯
产品产地:捷克
产品类型:进口
原制造商:泰思肯
状态:在售
厂商指导价格: 500~700万元[人民币]
上市时间: 2011年
英文名称:GAIA3 model 2016 GMH/GMU
优点:GAIA3 model 2016是一款可以挑战纳米设计应用的理想平台,它同时具备极佳的精度和微量分析的能力。GAIA3 model 2016擅长的一些应用包括制备高质量的超薄TEM样品,在技术节点减少层级的过程,精确的纳米构图或高分辨率的三维重建。
参考成交价格: 500~700万元[人民币]
仪器导购
扫描电镜SEM
其他推荐
厂家资料
地址:上海 闵行区联航路1688号旭辉国际28号1层; 昌平区中关村生命科学园生命园路29号,创新大厦A108室
电话:400-6699-117 转 5963
经销商
除厂家/中国总经销商外,我们找不到 GAIA3 model 2016超高分辨双束扫描电镜系统 (FIB-SEM) 的一般经销商信息,有可能该产品在中国没有其它经销商。
如果您是,请告诉我们,我们的邮件地址是:sales@antpedia.net 请说明: 1.产品名称 2.公司介绍 3.联系方式 |
售后服务
登记我会维修/培训/做方法
如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商,都可参与登记,我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。
产品调查
查看标准
- 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 扫描电子显微镜 用于扫描电子显微镜(TIFF/SEM)的标记图像文件格式
- ISO 21466:2019 微束分析.扫描电子显微镜.用CD-SEM评定临界尺寸的方法
- 18/30344520 DC BS ISO 21466 微束分析 扫描电子显微镜 CD-SEM 评估关键尺寸的方法
- ISO/TS 21383:2021 微束分析.扫描电子显微镜.定量测量用扫描电子显微镜的鉴定
- KS D ISO 22493-2022 微束分析.扫描电子显微镜.词汇
- ASTM F1372-93(1999) 用于气体分布系统部件的金属表面条件扫描电子显微镜(SEM)的标准测试方法
- ASTM F1372-93(2020) 用于气体分布系统部件的金属表面条件扫描电子显微镜(SEM)的标准测试方法
- SEMI F73-0309-2009 扫描电子显微镜 (SEM) 评估不锈钢部件润湿表面状况的测试方法
- KS D ISO 22493:2022 微束分析.扫描电子显微镜.词汇
- KS D ISO 22493-2012(2017) 微束分析扫描电子显微镜词汇