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ParticleX 全自动锂电正负极杂质分析系统

tel: 400-6699-117 6730

Phenom扫描电镜SEM, ParticleX 可以全自动对正负极中的铁类杂质颗粒进行快速识别、分析和分类统计,整个过程无需人工参与。定量磁性杂质颗......

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规格参数

 

Phenom ParticleX

光学放大

3 - 19 X

电子光学放大

200,000 X

分辨率

优于 8 nm

光学导航相机

彩色

加速电压

4.8 kV - 20.5 kV 连续可调

真空模式

高分辨率模式

降低核电效应模式

高真空模式

探测器

背散射电子探测器

二次电子探测器 (选配)

能谱探测器


厂家资料

地址:上海市浦东新区张江高科技园科苑路88号德国中心E座501-503

电话:400-6699-117 转 6730

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