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ParticleX 全自动锂电正负极杂质分析系统

tel: 400-6699-117 6730

Phenom扫描电镜SEM, ParticleX 可以全自动对正负极中的铁类杂质颗粒进行快速识别、分析和分类统计,整个过程无需人工参与。定量磁性杂质颗......

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技术特点
【技术特点】-- ParticleX 全自动锂电正负极杂质分析系统

Phenom ParticleX 以扫描电镜 + 能谱仪为硬件基础,通过背散射成像的明暗衬度识别颗粒,进而对颗粒进行能谱成分分析,根据颗粒形貌和成分信息对其智能分类,并且可以一键生成检测结果的报告。

飞纳 Phenom ParticleX 自动识别并采集所有杂质颗粒的形貌及成分信息。清晰的表面形貌有助于分析杂质的产生机理(如摩擦磨损等),成分信息有助于分析杂质产生的来源。

杂质的分析结果严格按照 VDA19 要求的格式呈现,颗粒分类统计结果更有助于评估锂电池生产的清洁度情况,方便不同批次样品的对比,以及生产工艺调整的验证。


锂离子电池的性能与正极材料的质量息息相关,当在正极材料中存在铁(Fe)、铜(Cu)、铬(Cr)、镍(Ni)、锌(Zn)、银(Ag)等金属杂质时,这些金属会先在正极氧化再到负极还原,当负极处的金属单质累积到一定程度,其沉积金属坚硬的棱角就会刺穿隔膜,造成电池自放电。负极材料中的杂质元素同样严重影响电池的电化学性能,有可能刺穿隔膜,造成安全隐患。


如何精准高效确认磁性杂质的来源,以此优化生产工艺呢?


ParticleX 全自动锂电正负极杂质分析系统

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ParticleX 可以全自动对正负极中的铁类杂质颗粒进行快速识别、分析和分类统计,整个过程无需人工参与。定量磁性杂质颗粒的形态、数量和种类,以此判定是哪个生产环节出了问题。


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  1. 可根据不同的检测需求,灵活定制自动分析流程

    常见自动化分析方案仅是能谱软件中的一项功能,可更改的参数很少,无法根据客户的需求灵活调整,也无法满足客户特殊户需求。ParticleX 是一套独立运行的系统,自动分析流程、杂质分类规则、报告生成样式等都可以根据实际需求灵活定制,会给每个客户定制一套针对性解决方案。


  2. 长寿命 CeB6 晶体灯丝,确保自动化分析的流畅运行

    常见电镜灯丝材料为钨,寿命较短(仅为100小时左右),并且灯丝后期会熔断,导致分析过程立刻终止。CeB6 灯丝寿命超过1500小时(厂家质保),灯丝后期不会发生熔断,确保了自动化分析的流畅运行。另外,CeB6 灯丝亮度更稳定,因此其结果准确性也更高。


  3. 多项设计,保证高通量快速运行

    · 100 × 100 mm 大尺寸样品台,可一次放置多个样品,一键自动全分析

    · 三仓分离的真空设计,抽真空时间小于 1 分钟,换样速度极快

    · 全自动电动马达台,保证位置移动的快速、精确


  4. 软硬件一体化设计,保证了软硬件的协调工作

    · 软件可以充分调用硬件权限,并针对性优化;

    · 电镜和能谱一体化设计,工作距离一致,避免频繁调节电镜或能谱工作距离,大大提升操作便捷性;

    · 售后问题可以在一家解决,避免互相推诿。


复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom-Scientific),负责荷兰飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售,提供专业的技术支持和测试服务,飞纳中国拥有专业的服务团队,提供优化的解决方案;飞纳中国提出飞纳学校 (Phenom University)的概念,为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训,在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心,目前飞纳在中国已经拥有超过 1000 名用户。




【技术特点对用户带来的好处】-- ParticleX 全自动锂电正负极杂质分析系统


【典型应用举例】-- ParticleX 全自动锂电正负极杂质分析系统

【产品所获奖项】-- ParticleX 全自动锂电正负极杂质分析系统

Phenom ParticleX 以扫描电镜 + 能谱仪为硬件基础,通过背散射成像的明暗衬度识别颗粒,进而对颗粒进行能谱成分分析,根据颗粒形貌和成分信息对其智能分类,并且可以一键生成检测结果的报告。

飞纳 Phenom ParticleX 自动识别并采集所有杂质颗粒的形貌及成分信息。清晰的表面形貌有助于分析杂质的产生机理(如摩擦磨损等),成分信息有助于分析杂质产生的来源。

杂质的分析结果严格按照 VDA19 要求的格式呈现,颗粒分类统计结果更有助于评估锂电池生产的清洁度情况,方便不同批次样品的对比,以及生产工艺调整的验证。




厂家资料

地址:上海市浦东新区张江高科技园科苑路88号德国中心E座501-503

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