ParticleX 全自动颗粒分析系统

飞纳 Phenom ParticleX 以台式扫描电镜和能谱仪为硬件基础，可以全自动对颗粒或杂质进行快速识别、分析和分类统计，为客户的研发以及生产提供快速、准确和可靠的定量数据支持。

粉末的尺寸、形状和化学性能对于粉末床的行成、熔池和微观均质性可能会产生重大影响。激光粒度仪虽然可以检验粉末粒度和形状，但无法自动检测和分析杂质颗粒。

Phenom ParticleX 专为工业环境使用而开发，可进行所有这些工作，并可生成标准报告，显示尺寸和形状分布以及识别污染颗粒。

同时具备纳米级分辨率成像功能，分辨率为 10 nm，可以对断口表面、单个颗粒和表 面缺陷（如气孔、夹杂物和微裂纹）进行高分辨率成像。

ParticleX 主要用于杂质或颗粒物的综合评估，可以自动获取大量颗粒的微观形貌 和成分信息，具体包括：

• 颗粒粒度分布
• 颗粒形貌分析
• 杂质成分检测
• 高分辨率成像（10 nm 分辨率）

ParticleX 以扫描电镜和能谱仪为基础，结合自动控制系统以及强大的数据库系 统，可以全自动对杂质颗粒进行快速识别、分析和分类统计，为客户的研发以及生 产提供快速、准确和可靠的定量数据支持。

产品参数

电子显微镜：200,000 倍

探测器：高灵敏度四分割背散射电子探测器

灯丝材料：1,500 小时 CeB6 灯丝

分辨率：优于 10 nm

放置环境：采用专业防震设计，可摆放于普通实验室或办公室、厂房

加速电压：4.8kV-20.5kV 连续可调

抽真空时间：小于 30 秒

能谱仪：可选配能谱仪

应用领域

· 全自动汽车零部件清洁度分析

ParticleX 可以监控清洁度并识别机动车流体系统中的污染源可降低现场故障率和保修成本。用于磨损碎屑表征的自动化解决方案有助于制造商在生产车间实现清洁度和质量控制的新标准。

· 全自动锂电正负极杂质分析

ParticleX 可以全自动对正负极中的铁类杂质颗粒进行快速识别、分析和分类统计， 整个过程无需人工参与。定量磁性杂质颗粒的形态、数量和种类，以此判定是哪个生产环节出了问题。

· 全自动钢铁夹杂物分析

ParticleX 为钢铁中夹杂物的分析提供了便捷、高效、可重现的分析工具。为钢铁材料的研发、生产、质量控制与评级提供了便利。

· 全自动 3D 打印金属粉末评估

粉末的尺寸、形状和化学性能对于粉末床的行成、熔池和微观均质性可能会产生重大影响。ParticleX 可以全自动对颗粒或杂质进行快速识别、分析和分类统计，为客户的研发以及生产提供快速、准确和可靠的定量数据支持。

复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom-China)，负责荷兰飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售，提供专业的技术支持和测试服务，飞纳中国拥有专业的服务团队，提供优化的解决方案；飞纳中国提出飞纳学校 （Phenom University）的概念，为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训，在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心，目前飞纳在中国已经拥有接近 1000 名用户。