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MirrorCLEM光-电联用显微镜法(CLEM)系统

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日立扫描电镜SEM, MirrorCLEM是搭配FE-SEM,迅速并准确支援CLEM解析的系统。系统配置 SU8200系列超高分辨场发射扫描电子显微镜

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技术特点

【技术特点】-- MirrorCLEM光-电联用显微镜法(CLEM)系统

MirrorCLEM是一个可简便观察光学显微镜和扫描显微镜同一位置的CLEM*1用系统。

  • *1: CLEM (Correlative light and electron microscopy):光学显微镜和电子显微镜的联用观察显微镜法

MirrorCLEM是搭配FE-SEM,迅速并准确支援CLEM解析的系统。

使用此系统,在光学显微镜下从低倍率到高倍率清晰观察树脂切片目标结构后,让观察位置与FE-SEM样品台坐标信息同步,通过控制马达台在FE-SEM上可观察同一位置。

此外,还可实时显示光学显微镜和FE-SEM的叠加图像。


系统配置

超高分辨场发射扫描电子显微镜SU8200系列



【技术特点对用户带来的好处】-- MirrorCLEM光-电联用显微镜法(CLEM)系统


【典型应用举例】-- MirrorCLEM光-电联用显微镜法(CLEM)系统



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