Helios 600 NanoLab FESEM/FIB"双束"显微镜
tel: 400-6699-117 转 8899FEI扫描电镜SEM, Helios NanoLab 设计用来以低至亚纳米量级的分辨率提供多尺度、多维度洞察,让研究人员能够观测样本zei微小的......
在线客服
产品型号:Helios 600 NanoLab
品牌:FEI
产品产地:美国
产品类型:进口
原制造商:FEI
状态:在售
厂商指导价格: 700~1500万元[人民币]
上市时间: 2006-08-18
英文名称:Helios NanoLab
优点:Helios NanoLab 设计用来以低至亚纳米量级的分辨率提供多尺度、多维度洞察,让研究人员能够观测样本zei微小的细节。Helios NanoLab 还可为原子分辨率 S/TEM 成像迅速制备zei高质量的样本。此外,如果研究工作包括开发 MEMS 或 NEMS 器件,也可配备 Helios NanoLab 打造全功能原型。
参考成交价格: 700~1500万元[人民币]
仪器导购
扫描电镜SEM
其他推荐
厂家资料
地址:上海市浦东新区张江高科技园区盛夏路399号8号楼
电话:400-6699-117 转 8899
经销商
除厂家/中国总经销商外,我们找不到 Helios 600 NanoLab FESEM/FIB"双束"显微镜 的一般经销商信息,有可能该产品在中国没有其它经销商。
如果您是,请告诉我们,我们的邮件地址是:sales@antpedia.net 请说明: 1.产品名称 2.公司介绍 3.联系方式 |
售后服务
登记我会维修/培训/做方法
如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商,都可参与登记,我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。
产品调查
查看标准
- 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 扫描电子显微镜 用于扫描电子显微镜(TIFF/SEM)的标记图像文件格式
- ISO 21466:2019 微束分析.扫描电子显微镜.用CD-SEM评定临界尺寸的方法
- ISO/TS 21383:2021 微束分析.扫描电子显微镜.定量测量用扫描电子显微镜的鉴定
- KS D ISO 22493-2012(2017) 微束分析扫描电子显微镜词汇
- BH GSO ISO 22493:2017 微束分析 扫描电子显微镜 词汇
- KS D ISO 22493-2022 微束分析.扫描电子显微镜.词汇
- KS D ISO 22493:2022 微束分析.扫描电子显微镜.词汇
- GSO ISO 22493:2015 微束分析 扫描电子显微镜 词汇
- KS D ISO 22493:2012 微光束分析.扫描电子显微镜.术语
- 18/30344520 DC BS ISO 21466 微束分析 扫描电子显微镜 CD-SEM 评估关键尺寸的方法