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Scios DualBeam 电子显微镜

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FEI扫描电镜SEM, Scios DualBeam FEI Scios™ 是一款超高分辨率 DualBeam™ 分析系统,能为包括磁性材料在......

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高级检测技术是 FEI Scios 的核心技术。透镜内 FEI Trinity™ 检测技术能够同时收集所有信号,既节省了时间还能形成鲜明的对比度,从而有助于采集尽可能多的数据。创新的透镜下同心后散射检测器能提高效率,使您可以根据信号的角分布选择信号,从而轻松分离材料和形态对比度,即使着陆能量为 20 eV 也是如此。

Scios 的材料科学应用


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