Nanonics近场光学扫描显微镜(NSOM/SNOM)

NANONICS是业界成立zei久并且对此类系列产品经验zei丰富的公司之一，其产品荣获过许多国际大奖。在强大的NSOM/AFM的整合操作系统推动下，今天NANONICS继续以强大的优势和全面的系统领导着市场。NANONICS凭借实力和品质，其产品涉足的领域从科研到工业，从生物学到半导体，从化学制品到无线电通讯，应用范围极其广泛。

我们的理念 – 提供SPM，近场光学和显微镜整合方案
Nanonics 致力于制造世界级领先的SPM仪器，我们将SPM技术和其它显微镜表征技术完美的整合在一起。在纳米科技表征技术领域中，为用户提供一个开放并极具潜力的SPM表征技术平台。

我们的技术
作为一家商业公司，我们有着自己独特的技术优势。我们能提供大量种类齐全的纳米探针。包括业内领先的悬臂近场光学（NSOM）探针到热学，电学探针。这些外露光学探针的运用结合具有zl保护的3D平面扫描技术为我们的系统提供了一个广阔开放的光学平台——这是我们能够将AFM技术和其它显微镜表征技术完美结合的重要原因。

我们的团队
我们拥有一支世界级的专家团队为我们提供创新技术和高性能的产品。在过去的十年里我们拥有40多名员工并且组建了全球zei大的SPM专家和科学家团队。 团队直接由近场光学奠基人之一的Aaron Lewis 教授带领十五名科学家为全球客户提供以SPM为平台的产品和技术支持。

我的技术服务
我们致力于提供客户高性能的业内领先级产品和高附加值的技术支持。从系统安装开始，我们就区别于其它竞争对手，为你提供高素质的技术专家安装设备，提供SPM技术领域的专家指导。通过一对一的与客户沟通帮助客户使用仪器。Nanonics在业内已经有一大批客户并且客户通过使用我们的仪器发表了不少好的文章。这些客户和客户的成绩也同样见证了我们为客户提供了的完整的SPM和其他表征整合方案和技术支持。



**********************近场扫描光学显微镜的基本构造********************
      进行NSOM实验，必须将点光源靠到样品表面纳米距离，然后点光源扫描样品表面，再收集探测经过样品表面的光学信号。我们使用经金属涂层处理的带孔洞椎形光纤作为NSOM探针。光经耦合进入探针，从亚光波长孔径的探针尖端发出，NSOM的分辨率就是由孔径的大小决定(zei优可以达到50纳米)。点光源和样品表面的距离通常通过正常的力反馈机制(与AFM相同)控制，因此可以进行接触、敲击和非接触模式的NSOM实验。针对不同的材料和实验，通常有四种NSOM操作模式： 

* 透射模式成像——样品经过探针照明，光通过样品并与样品相互作用后被收集探测；
* 反射模式成像——样品经过探针照明，光从样品表面反射并被收集探测；
* 收集模式成像——样品经远场光源照明(从上或下面均可)，探针将光信号从样品表面收集；
* 照明收集模式成像——用同一根探针同时进行照明和收集探测反射光； 

在近场光学领域，部分扫描模式只有通过Nanonics提供的独特玻璃光纤探针才能完成，因为我们独特的光纤探针具有很好的波导性能。

      收集的光可通过多种探测器探测，如APD(Avalanche Photo Diode)、PMT(Photomultiplier Tube)、InGaAs探测器、CCD或通过光谱仪探测，通过探测器得到的信号经过数据处理得到样品材料的NSOM图像。