技术特点
【技术特点】-- 美国RHK无液氦低温STM/qPlusAFM系统
RHK公司无液氦低温STM/qPlusAFM系统,利用独特的减震和噪音隔离技术,将Pan式STM/qPlusAFM扫描头直接与制冷机冷头连接,革新常规低温STM/AFM系统受液氦制约的现状,与zei新的R9扫描探针显微镜控制器联用,在低温下得到稳定的原子级分辨图像。
主要技术参数:
工作温度9K-400K,全温区实现原子级分辨
扫描范围:5×5um
样品尺寸10×10mm
XYZ粗位移范围5×5×10mm
样品和探针都处于低温状态
XY面内漂移极低0.2Ang/Hr,Z方向漂移极低0.2Ang/Day
机械噪音和电噪音被极大消除
优秀的扫描隧道谱学性能
【技术特点对用户带来的好处】-- 美国RHK无液氦低温STM/qPlusAFM系统
【典型应用举例】-- 美国RHK无液氦低温STM/qPlusAFM系统
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