环境扫描探针显微镜

技术规格：

任意对准的设计模式

扫描范围：120×120×40μm或40×40×4μm（XYZ）

Z轴分辨率：Z分辨率<0.2nm，在120μmx120μm扫描范围时

Z轴分辨率：Z分辨率< 0.02nm，在40nmx40μm扫描范围时

固有噪声：<75fm√Hz

横向解析度：大范围扫描时<16nm，小扫描时<5nm

样本大小：不限制

特征：便携式、用户友好、价格实惠、大扫描区域（x，y，z）、低压运行

模式：

间歇性接触

相位成像/相位对比

接触模式/静力

横向力显微镜（LFM）

磁力显微镜（MFM）

静电力显微镜（EFM）

压电响应力显微镜（PRFM）

开尔文探针力显微镜（KPFM）

力调制

导电AFM（c-AFM）

扫描扩散电阻显微镜（SSRM）

多光谱模式

光刻和操作模式

液体模式

Technical Specs

Alignment Free Design

120 x 120 x 40μm or 40 x 40 x 4μm (XYZ)

Z Resolution < 0.2nm with 120μmx120μm scanner

Z Resolution < 0.02nm with 40μmx40μm scanner

< 75 fm√Hz noise floor

Lateral Resolution with large scanner < 16nm, with small scanner < 5nm

Unlimited Sample Size

Features

PORTABLE

USER FRIENDLY

AFFORDABLE

LARGE SCAN AREA(x,y,z)

OPERATES with LOW VOLTAGE

Modes

Intermittent Contact

Phase Imaging / Phase Contrast

Contact Mode / Static Force

Lateral Force Microscopy (LFM)

Magnetic Force Microscopy (MFM)

Electrostatic Force Microscopy (EFM)

Piezo Response Force Microcopy (PRFM)

Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM)

Force Modulation

Conductive AFM (c-AFM)

Scanning Spreading Resistance Microscopy (SSRM)

Multiple Spectroscopy Modes

Lithography and Manipulation Modes

Liquid Modes