二、性能特点

1. JX-2000颗粒图像分析仪，工业级摄像头高速采集，光学显微镜放大成像，图像快速显示于电脑，直接观察颗粒形貌，专用软件进行颗粒数据处理。

2.    测量范围：0.5μm～3000μm

3.   接口方式：USB连接。

4. 平场消色差物镜，zei大分辨率0.07微米，zei大光学放大倍数1600倍，打印zei大倍数4000倍(A4幅面)。

5. 供等面积和等周长两种基准下的个数、直径、面积、体积、圆形度等分布数据。同时提供颗粒数、D10、D50、D90、平均粒径、表面积、长径比等粒度分布数据，配有(30)多种图像分析和处理功能，可以满足各种图像处理需要。

6. 对采集的图像进行调整高度、宽度、亮度、对比度、滤波、填充等，提高分析分辨率，网格标注颗粒尺寸等功能，使测试结果更真实可靠。

7. 仪器分二种型号，技术原理、参数都相同，JX-2000A型颗粒图像分析仪配置透射显微镜，JX-2000B型颗粒图像分析仪配置透反射显微镜，后者还可用于陶瓷、金属等各种不透光物体表面晶形的观察分析。

8. 颗粒形貌图像可存盘和打印，还可输出多种格式的测试报告。另可根据行业特殊要求，设计磨料、硅灰石等专用软件。