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Microtrac纳米粒度及Zeta电位分析仪Nanotrac wave II

tel: 400-6699-117 8811

麦奇克Zeta电位仪/微电泳仪, 最新一代Nanotrac wave II微电场分析技术,融纳米颗粒粒度分布与Zeta电位测量于一体,无需传统的比色皿,一......

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技术参数:

粒度分析范围:0.3nm-10μm
重现性:误差≤1%
Zeta电位测量范围:-200mV~200mV
电导率:0-200ms/cm
浓度范围:100ppb-40%w/v
检测角度:180°
分析时间:30-120秒
准确性:全量程米氏理论及非球形颗粒校正因子
测量精度:无需预选,依据实际测量结果,自动生成单峰/多峰分布结果
理论设计温度:0-90℃,可以进行程序升温或降温
兼容性:水相和有机相
测量原理:粒度测量:动态光背散射技术和全量程米氏理论处理
Zeta电位测量:膜电极设计与“Y”型探头形成微电场测量电泳迁移率
分子量测量:水力直径或德拜曲线
光学系统:5mW780nm半导体固定位置激光器,通过梯度步进光纤直接照射样品,在固定位置用硅光二极管接受背散射光信号,无需校正光路
软件系统:先进的Microtrac FLEX软件提供强大的数据处理能力,包括图形,数据输出/输入,个性化输出报告,及各种文字处理功能,如PDF格式输出, Internet共享数据,Microsoft Access格式(OLE)等。体积,数量,面积及光强分布,包括积分/微分百分比和其他分析统计数据。数据的完整性符合21 CFR PART 11安全要求,包括口令保护,电子签名和指定授权等。
外部环境:电源要求:90-240VAC,5A,50/60Hz

环境要求:温度,10-35°C 

 

国际标准 符合ISO13321,ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008



厂家资料

地址:上海市虹梅路1535号星联科研大厦2幢605-607单元

电话:400-6699-117 转 8811

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