技术参数:
粒度分析范围: | 0.3nm-10μm |
重现性: | 误差≤1% |
Zeta电位测量范围: | -200mV~200mV |
电导率: | 0-200ms/cm |
浓度范围: | 100ppb-40%w/v |
检测角度: | 180° |
分析时间: | 30-120秒 |
准确性: | 全量程米氏理论及非球形颗粒校正因子 |
测量精度: | 无需预选,依据实际测量结果,自动生成单峰/多峰分布结果 |
理论设计温度: | 0-90℃,可以进行程序升温或降温 |
兼容性: | 水相和有机相 |
测量原理: | 粒度测量:动态光背散射技术和全量程米氏理论处理 Zeta电位测量:膜电极设计与“Y”型探头形成微电场测量电泳迁移率 分子量测量:水力直径或德拜曲线 |
光学系统: | 5mW780nm半导体固定位置激光器,通过梯度步进光纤直接照射样品,在固定位置用硅光二极管接受背散射光信号,无需校正光路 |
软件系统: | 先进的Microtrac FLEX软件提供强大的数据处理能力,包括图形,数据输出/输入,个性化输出报告,及各种文字处理功能,如PDF格式输出, Internet共享数据,Microsoft Access格式(OLE)等。体积,数量,面积及光强分布,包括积分/微分百分比和其他分析统计数据。数据的完整性符合21 CFR PART 11安全要求,包括口令保护,电子签名和指定授权等。 |
外部环境: | 电源要求:90-240VAC,5A,50/60Hz 环境要求:温度,10-35°C
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国际标准 | 符合ISO13321,ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008 |
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经销商
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