Nicomp 380 DLS 纳米粒径检测仪

NICOMP 380DLS纳米粒径分析仪

           Nicomp 380 DLS 纳米粒径分析仪采用动态光散射原理检测分析颗粒的粒度分布，主要用于检测纳米级别的胶体体系，其粒径检测范围 0.3 nm- 10μm。Nicomp 380系列仪器复合采用了 Gaussian 单峰算法和zl的 Nicomp 多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀液态分散体系的分析以及胶体体系的稳定性分析具有独特优势，其优异的解析度及重现性是其他同类产品无可比拟的。

            基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列仪器所独有的两个主要特点，通过多年在不同领域的实践证明，Nicomp380系列仪器可以有效区分开相邻峰，也可以识别并剔除少数较大粒子造成的杂峰。如下图所示：

Nicomp 380纳米粒径分析仪可以有效区分开相邻峰