DAGE X光检测系统Quadra 5

Quadra NT™ X光管                                  

X光管类型：封闭穿透式

分辨率：0.35 μm(10W以内)，0.95 μm(20W以内)

zei大功率：10W (可选升级到20W)

电压范围：30-160kV

Aspire FP™平板探测器                             

像素数：300万像素

帧速率：25 fps

像素间距：50 μm

数字图像处理：16-bit

检测                                                          

倾斜角度视图：70°

主动减震：AxiS - 主动式X-ray 图像稳定器

显示分辨率(每英寸像素数)：94像素/英寸

zei大检测区域：20”×17.5”

zei大样品尺寸：29”×22.8”

zei大几何放大倍数：2,500×

zei大总放大倍数：45,000×

zei大样品重量(标准推盘)：5kg(11 lbs)

显示器：24“ WUXGA单显示器(分辨率1920×1200)，固定在柔性支架上

系统                                                          

设备尺寸：1570 W×1500 D×1900 H mm

设备重量：1950 kg (4300 lbs)

电源：单相200-230 VAC，16A

典型功耗：1KW

压缩空气：4-6 bar(干燥洁净)，用于防振

环境温度：10-30°C

环境湿度：< 85% (无结露)

操作方式：鼠标操作

操作系统：Windows 10(64位)

新型Quadra™ 5是专门为电子领域应用设计的zei灵活的X光检测解决方案

产品特性：

· 分辨率< 0.1μm (100nm)（X光管功率10W以内都可以达到）

· Aspire FP™ 300万像素@ 25fps平板探测器，像素点间距 50μm

· zei大放大倍数高达45,000倍

· 24“ 全高清WUXGA LED显示器，分辨率1920 x 1200

· zei大70°斜角视图，保持放大倍数不变

· 主动式X光图像稳定系统(AχiS)

· 标配自动检测功能，包括QFN，BGA，焊盘(Pad)，线弯曲(Wire sweep)

· 可选配μCT及X-Plane®实现可视化切片，而无需切割样品