【技术特点】-- 禾苗 E3-3D 三维定位镀层测厚仪器

E3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF)，专门用于镀层厚度检测；其核心部件采用美国进口，软件算法采用美国EDXRF前沿技术，仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告；精密度、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器，特别针对大件异形不平整样品，无需拆分，直接测试即可达到精确的测试效果。

产品特点：

1.1全自动三维样品台

1.2 X射线向下照射式，激光对焦

1.3小光斑设计

1.4测试时间灵活性调节

1.5多规格样品仓

1.6 X-Ray探测器

HeLeeX E3-3D采用美国原装全进口一体式X-123半导体X射线探测器，其先进的半导体制冷技术，高峰背比（信噪比），超高计数率，优越的分辨率和稳定性以及高集成化等特点，超越其他品牌或同品牌的组装探测器。

应用领域：

● 根据不同基体样品，配备三种算法，增加样品测试精准度。

● 配备开放式分析模型功能，客户可自行建立自己的工作模型。

【技术特点对用户带来的好处】-- 禾苗 E3-3D 三维定位镀层测厚仪器

【典型应用举例】-- 禾苗 E3-3D 三维定位镀层测厚仪器