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MAXXI 6 X射线荧光镀层测厚仪

tel: 400-6699-117 6246

日立分析仪器X射线荧光测厚仪, 微束XRF涂层厚度和材料分析仪,方便快速进行质量控制和验证测试,在几秒内即可获得准确的数据。 基于X-光荧光的涂层厚度......

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凭借卓越的分辨率和高效率 SDD,MAXXI 6 是测量zei薄涂层和痕量元素成分的理想仪器。MAXXI 6 具有多达6个主滤波器和8个准直器,能够处理zei具挑战性的应用。巨大的开槽室设计是小、大或长样本的理想选择。优化的硬件配置可以直接分析化学镀镍应用中的%P。


X-Strata920 可被配置为三个不同的样品台配置,以应对各种不同的样本形状和尺寸。标准台可以快速定位小或薄部件。加深台基座有一个可移动托盘,可快速被配置,以搭配小或大零件(zei大6英寸)。电动X-Y台可自动分析多个样品或一个样品的多个位置。

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地址:上海市闵行区瓶北路150弄129号

电话:400-6699-117 转 6246

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