日立FT150镀层测厚仪

基本参数：

型号：FT150（标准型）FT150h（高能量型）FT150L（大型线路板对应）

测量元素：原子序数13（Al）～92（U） 

X射线源：管电压：45 kV    

        FT150：Mo靶 FT150h：W靶 FT150L：Mo靶 

检测器：Si半导体检测器（SDD）（无需液氮） 

X射线聚光：聚光导管方式 

样品观察：CCD摄像头（100万像素） 

对焦：激光对焦、自动对焦 

最大样品尺寸：FT150:400(W)×300(D)×100(H)mm 

                        FT150h:400(W)×300(D)×100(H)mm 

                        FT150L:600(W)×600(D)×20(H) mm 

工作台行程：FT150:400(W)×300(D)

                   FT150h:mm400(W)×300(D)

                    FT150L:mm300(W)×300(D) mm 

操作系统：电脑、22英寸液晶显示屏 

测量软件：薄膜FP法（最多5层膜、10元素）、检量线法、定性分析 

数据处理：Microsoft Excel、Microsoft Word 安装 

安全功能：样品门联锁 

消耗电量：300 VA以下

产品对比

凭借卓越的分辨率和高效率 SDD，MAXXI 6 是测量zei薄涂层和痕量元素成分的理想仪器。MAXXI 6 具有多达6个主滤波器和8个准直器，能够处理zei具挑战性的应用。巨大的开槽室设计是小、大或长样本的理想选择。优化的硬件配置可以直接分析化学镀镍应用中的%P。

X-Strata920 可被配置为三个不同的样品台配置，以应对各种不同的样本形状和尺寸。标准台可以快速定位小或薄部件。加深台基座有一个可移动托盘，可快速被配置，以搭配小或大零件（zei大6英寸）。电动X-Y台可自动分析多个样品或一个样品的多个位置。