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日立 FT9500系列 X射线荧光镀层厚度测量仪

tel: 400-6699-117 1000

日立X射线荧光测厚仪, 仪器简介: X射线发生系统为X射线聚焦光学系统(聚焦导管)与X射线源相结合,并且可以照射出实际照射直径为0.1mmΦ以......

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技术参数:

型号FT9500FT9550FT9500L
测量元素Al(13)~Bi(83)
X射线源管电压:50(可变更)kV
管电流: 10~1000 μA
检测器半导体检测器(无需液氮)
X射线聚光聚光导管方式
样品观察CCD摄像头(带变焦功能)
对焦激光对焦
滤波器一次滤波器:3个位置(自动切换)
样品区域X:240mm, Y:175mm
X:220mm, Y:150mm, Z:150mm
X:420mm, Y:330mm
X:400mm, Y:300mm, Z:50mm
X:840mm, Y:540mm
X:400mm, Y:300mm, Z:50mm
测量软件薄膜FP法(zei大5层、10种元素)、检量线法、块体FP法(材料组成分析)
安全功能样品门联锁



厂家资料

地址:北京市朝阳区东三环北路5号北京发展大厦1405室

电话:400-6699-117 转 1000

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