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日立 FT9200系列 X射线荧光镀层厚度测量仪

tel: 400-6699-117 1000

日立X射线荧光测厚仪, 仪器简介: 是利用荧光X射线原理的镀膜厚度测量计。是一个本公司膜厚仪FT系列的标准机型。有适用线路板用的FT9250、有适用大型线路板用的FT9255、可以对应广泛的应用程序。

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技术参数:

可测量元素:原子序数22(Ti)~92(U)
X射线源:小型空气冷却型X射线管球 管电压:45kV 管电流:1mA Be窗
滤波器:一次滤波器:Al-自动切换  二次滤波器:Co-自动切换
检测器:比例计数管
准直器:方型:0.2×0.05mm 0.05×0.02mm 
              圆形:Φ0.1mm Φ0.2mm Φ0.3mm

安全性能:装有样品门联锁、防冲撞的功能

样品图像对焦方式:激光自动对焦

样品观察:CCD固定倍率、卤素灯照明 选购项:倍率切换(zei大130倍) 
修正功能:底材修正、已知样品修正、人工输入修正
测量报告书制作:配备MS-EXCEL® MS-WORD®(使用宏支持自动制作测量报告书) 测量能谱与样品图像保存功能



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