技术特点
【技术特点】-- 日立 FT9200系列 X射线荧光镀层厚度测量仪
主要特点:
1. 能够测量无铅焊锡
配备了薄膜FP法,可以同时测量Sn-Ag,Sn-Bi,Sn-Cu等,无铅焊锡的镀层后与成份
2. 搭载中心搜索软件
通过扫描样品可以自动检测出线及基板点面部分的测量中心位置。
3. 拥有防冲功能
4. 搭载激光对焦系统
5. 即时生成测量报告的便捷性
运用搭载的Microsoft Word® Excel® 可以简单轻松得到制作报告。
6. 拥有自动测量软件以及中心搜索软件
7. 搭载了薄膜FP法软件
8. 自动对焦功能
配备激光自动对焦功能,能够准确对焦,提高测量效率。
【技术特点对用户带来的好处】-- 日立 FT9200系列 X射线荧光镀层厚度测量仪
【典型应用举例】-- 日立 FT9200系列 X射线荧光镀层厚度测量仪
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