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日立 FT9200系列 X射线荧光镀层厚度测量仪

tel: 400-6699-117 1000

日立X射线荧光测厚仪, 仪器简介: 是利用荧光X射线原理的镀膜厚度测量计。是一个本公司膜厚仪FT系列的标准机型。有适用线路板用的FT9250、......

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技术特点
【技术特点】-- 日立 FT9200系列 X射线荧光镀层厚度测量仪

主要特点:

1. 能够测量无铅焊锡
    配备了薄膜FP法,可以同时测量Sn-Ag,Sn-Bi,Sn-Cu等,无铅焊锡的镀层后与成份


2. 搭载中心搜索软件
    通过扫描样品可以自动检测出线及基板点面部分的测量中心位置。


3. 拥有防冲功能


4. 搭载激光对焦系统


5. 即时生成测量报告的便捷性
    运用搭载的Microsoft Word® Excel® 可以简单轻松得到制作报告。

 
6. 拥有自动测量软件以及中心搜索软件


7. 搭载了薄膜FP法软件


8. 自动对焦功能 

    配备激光自动对焦功能,能够准确对焦,提高测量效率。



【技术特点对用户带来的好处】-- 日立 FT9200系列 X射线荧光镀层厚度测量仪


【典型应用举例】-- 日立 FT9200系列 X射线荧光镀层厚度测量仪


厂家资料

地址:北京市朝阳区东三环北路5号北京发展大厦1405室

电话:400-6699-117 转1000

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