产品描述:
美国博曼(Bowman)Bowman BA-100 Optics 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。
Bowman BA-100 Optics 机型采用业界zei先进的多孔毛细管光学聚焦装置,有效缩小测量点斑点的同时,可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。
Bowman BA-100 Optics 机型配备大面积的SDD(硅漂移探测器),有效拓展元素分析范围,适应zei严格的微区、超薄镀层,以及痕量元素分析需求。
优秀的测试性能、突出的微区测量能力,Bowman BA-100 Optics机型是研究开发、质量管控的zei佳XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。
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