菲希尔XDLM系列 X射线荧光镀层测厚仪

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。这款仪器专门是为测量超薄镀层和微含量而设计，是用于质量控制，质量检验和生产监控的zei合适的测量仪器。   FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 设计为界面友好的台式测量仪器系列。根据不同的预期用途，有不同的版本。 XDLM 231 型的工作台为固定式工作台，马达驱动的 Z 轴升降系统。  XDLM 232 型配有可手动操控的 X/Y 工作台，马达驱动的 Z 轴升降系统。  XDLM 237 型则配备了马达驱动的 X/Y 工作台，当保护门开启时，工作台会自动移到放置样品的位置。马达驱动的可编程 Z 轴升降系统。