技术特点
【技术特点】-- 韩国ISP镀层厚度分析仪iEDX-150WT
ISP iEDX-150WT镀层测厚仪;
采用非真空样品腔;
专业用于PCB镀层厚度测量,PCB镀层分析,金属电镀镀层分析;
集成了镀层分析界面和合金成份分析界面;
可同时增加镀层中的合金成份分析及RoHS功能。
应用领域:
iEDX-150WT镀层测厚仪应用于PCB镀层厚度测量分析、金属电镀镀层分析、电镀膜厚分析等镀层领域
技术指标:
多镀层,1~5层
测试精度:0.001 μm
元素分析范围从铝(Al)到铀(U)
测量时间:10~30秒
SDD探测器,能量分辨率为125±5eV
探测器Be窗0.5mil(12.7μm)
微焦X射线管50KV/1mA,钼、钨、铑靶
6个准直器及多个滤光片自动切换
XYZ三维移动平台,zei大荷载为5公斤
高清CCD摄像头,准确监控位置
多变量非线性去卷积曲线拟合
高性能FP/MLSQ分析
仪器尺寸 620×612×525 mm
平台移动范围 110(X)x110(Y)x5mm
图谱界面:
软件支持无标样分析
超大分析平台
可自动连续多点分析
集成了镀层分析界面和合金成分分析界面
采用多种光谱拟合分析处理技术
分析报告结果
直接打印分析报告
报告可转换为PDF,EXCEL格式
样品分析图谱:
测试结果界面:
韩国PCB镀层厚度分析仪iEDX-150WT
是韩国原装进口设备,采用开放式样品腔。专业用于电镀镀层分析、PCB镀层厚度分析,可同时分析镀层中的成分比例。镀层厚度分析软件
采用业界基本参数法(FP)
可以镀液进行定量分析
可分析1-6层、以及合金镀层成分
可同时分析20种元素,频谱比较
减法运算和配给
智能背景滤波器
有多种分析计算数学模型,方便对不同材料,不同样品的分析测量
可制作多条工作曲线,各个曲线
测试条件独立,方便测试
MTFFP软件主界面
二乘法计算峰值反卷积。采用卢止斯-图思计算方法进行矩阵校正及内部元素作用分析。金属分析精度可在+/-0.02%,贵金属(8-24Karat)分析精度可达+/-0.05kt
对镀液进行分析。采用不同的数学计算方法对镀液中的金属离子进行测定。含全元素、内部元素、矩阵校正模块。
图谱界面:
1、软件支持无标样分析;
2、大分析平台;
3、可自动连续多点分析;
4、集成了镀层界面和合金成分分析界面;
5、采用多种光谱拟合分析处理技术。
分析报告结果:
1、直接打印分析报告;
2、报告可转换为PDF、EXCEL和HTML格式
【技术特点对用户带来的好处】-- 韩国ISP镀层厚度分析仪iEDX-150WT
【典型应用举例】-- 韩国ISP镀层厚度分析仪iEDX-150WT
【产品所获奖项】-- 韩国ISP镀层厚度分析仪iEDX-150WT
采购单位名称 | 采购时间 | 采购台数 | 适用领域 |
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苏州市吴通电子有限公司 | 2017-06-27 | 1 | 电子/电器/半导体 |
大连吉星电子股份有限公司 | 2017-03-09 | 1 | 电子/电器/半导体 |
记忆科技/联想集合联合实验室 | 2017-02-17 | 1 | 电子/电器/半导体 |
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