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开槽台式微区XRF光谱仪 M2 BLIZZARD

tel: 400-6699-117 1000

布鲁克X射线荧光测厚仪, 大尺寸镀层测厚仪 M2 BLIZZARD

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技术参数
M2 BLIZZARD 的两种探测器选项。
可选用比例计数器(PC)或 高分辨率硅漂移探测器(SDD)
激发:微焦点,高性能,带侧窗,钨靶
高电压:50 kV,50W
探测器:大面积正比计数器,感应面积1100mm,能量分辨率<950eV(Mn-K)
选配探测器:高性能Peltier冷却XFlash硅漂移探测器,感应面积30mm2,能量分辨率<150eV,(Mn-Ka)
光斑尺寸:固定或4个自由切换,0.1到1.5mm;其他准直器:例如槽式
样品视图:高分辨率彩色摄像系统,放大倍数~30倍
样品台:手动塑料样品托盘,Z轴自动聚焦,行程:30mm
定量分析:总体分析:基于标样的经验系数法模式,无标样的FP法(基本参数法)模式;镀层分析:FP-基本参数法模式
供电:110/230 VAC,50/60 Hz,zei大功率150W
尺寸(宽x深x高):1055x688x430mm
重量:75kg





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