技术特点
【技术特点】-- SURAGUS EddyCus® TF膜厚面阻测试仪
应用领域:
·薄膜面电阻的测量
·薄膜厚度的测量
·导电性基板厚度的测量
·与电阻相关的其他参数的测量
技术特点:
·非接触式实时测量
·可实现对几乎所有平面样品的测量
·测量传感器与样品之间的距离及测量 点的大小可调
·扫频范围可达256个频率点
·薄膜厚度测量可精确至纳米量级
·操作简单,软件功能丰富
【技术特点对用户带来的好处】-- SURAGUS EddyCus® TF膜厚面阻测试仪
【典型应用举例】-- SURAGUS EddyCus® TF膜厚面阻测试仪
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